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ElektroPhysik測(cè)厚儀PhysiTest 15201ElektroPhysik測(cè)厚儀PhysiTest 15201：濕膜輪測(cè)厚儀Wet Film Thicknes。PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí)，內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。
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EPK QuintSonic 5超聲涂層測(cè)厚儀熱銷EPK QuintSonic 5超聲涂層測(cè)厚儀熱銷:探頭置于涂層表面，探頭將發(fā)出的超聲波脈沖穿過(guò)涂層到達(dá)基體，這些超聲波脈沖從各層界面依次反射，又被探頭的超聲傳感器所接受，微處理度和涂層總厚度。一次測(cè)量耗時(shí)少于2秒，數(shù)據(jù)被分組存儲(chǔ)，接上MININPRINT打印機(jī)，還可以打印輸出所有有序存儲(chǔ)的讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
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德國(guó)ElektroPhysik FH7400熱銷現(xiàn)貨供應(yīng)德國(guó)ElektroPhysik FH7400熱銷現(xiàn)貨供應(yīng)，可準(zhǔn)確測(cè)量厚達(dá)10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進(jìn)行簡(jiǎn)單，無(wú)損，高精度的厚度測(cè)量，無(wú)論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角，小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測(cè)量工具。
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PhysiTest測(cè)厚儀ElektroPhysik原裝供應(yīng)PhysiTest測(cè)厚儀ElektroPhysik原裝供應(yīng)：PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀可以用于測(cè)量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。PhysiTest濕膜輪測(cè)厚儀由兩個(gè)外同心輪和一個(gè)內(nèi)偏心輪組成。當(dāng)濕膜輪在涂層表面滾動(dòng)時(shí)，內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時(shí)所對(duì)應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。
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MIKROTEST S10德國(guó)EPK機(jī)械式測(cè)厚儀MIKROTEST S10德國(guó)EPK機(jī)械式測(cè)厚儀、MIKROTEST根據(jù)量程大小可分為G6，F(xiàn)6，G7，F(xiàn)7，S3，S5，S10和S20。實(shí)用、優(yōu)惠的統(tǒng)計(jì)涂層測(cè)厚儀。適用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層，如油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等。用于非鐵金屬（鋁、鋅、銅等）上的所有絕緣涂層，如陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等。
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ElektroPhysik高科技產(chǎn)品GALVANOTEST測(cè)厚儀ElektroPhysik高科技產(chǎn)品GALVANOTEST測(cè)厚儀，是一款應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理。其過(guò)程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。
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熱銷供應(yīng)EPK MiniTest 600測(cè)厚儀600BFN熱銷供應(yīng)EPK MiniTest 600測(cè)厚儀600BFN：N型測(cè)頭是根據(jù)電渦流原理設(shè)計(jì)的，主要測(cè)量非鐵磁性金屬和奧氏體不銹鋼上的涂層。例如：鋁、銅、鑄鋅件上的涂料、陽(yáng)極氧化膜、陶瓷等。FN型測(cè)頭是同時(shí)利用磁感應(yīng)原理和電渦流原理設(shè)計(jì)的，一個(gè)測(cè)頭就可完成F型和N型兩種測(cè)頭所能完成的測(cè)量。
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ElektroPhysik測(cè)厚儀QuintSonic 7技術(shù)特點(diǎn)ElektroPhysik測(cè)厚儀QuintSonic 7技術(shù)特點(diǎn)：采用創(chuàng)新技術(shù)的QuintSonic 7是*個(gè)可以準(zhǔn)確測(cè)量GRP（熱固性塑料或玻璃鋼）和CRP（低溫鋼）工件上涂層厚度的測(cè)厚儀。儀器新增一個(gè)功能是可以將標(biāo)準(zhǔn)樣件的聲速內(nèi)置于儀器中。一旦某種介質(zhì)的聲速確定，聲速可以存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)供調(diào)取使用。這樣可以減少測(cè)量時(shí)的設(shè)置時(shí)間。
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