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X熒光射線測厚儀XDLM237核心功能：

適用于薄涂層的無損厚度測量和分析，包括低濃度涂層。

可對批量生產(chǎn)的零件和印刷電路板進行自動測量。

能無標準地分析涂層系統(tǒng)以及固體和液體樣品（使用費舍爾基本參數(shù)法）。

可同時檢測從氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)的多達 24 種元素。

X熒光射線測厚儀XDLM237性能優(yōu)勢：

采用比例計數(shù)管實現(xiàn)高計數(shù)率，保證測量精確性。

孔徑和初級濾波器可電動更換，能為每次測量創(chuàng)造優(yōu)良條件。

具有出色的長期穩(wěn)定性，顯著減少校準工作。

配備快速、可編程的 X/Y 載物臺，適合自動樣品測量

應用領域

量產(chǎn)零件的測量

檢測具有小測量點的薄涂層

電子和半導體行業(yè)中功能涂層的分析

印刷電路板等的自動測量